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BGA芯片X-Ray检测设备 空焊/裂缝/虚焊x光检测机
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产品描述

平板类型非晶硅平板探测器 视场范围130mm×130mm AD转换位数16bits 管电流范围10-200 μA 微焦点尺寸5~15μm

BGA芯片X-Ray检测设备 空焊/裂缝/虚焊x光检测机
高性价比的通用型离线式精密微焦斑x射线检测设备,适用于各类工厂离线产品的检测,其具备高放大倍率、多角度检测、大面积检测平台等特点。满足通用X射线检测需求,应用范围广泛;高分辨率设计,快速获得更佳图像;激光自动导航定位,快速选定拍摄位置;CNC检测模式,针对多点阵列快速自动检测;倾斜多角度检测更容易检测样品缺陷;软件操作简单易用,低运营成本;光管平板可同时旋转(0-60°)使检测图像更清晰直观;实时监控值,多重保护操作员的人生安全;摇杆机构,操作简单,操控性好。

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